目前公司 X射線熒光光譜儀(XRF)已經(jīng)進(jìn)入調(diào)試階段,X射線熒光分析法用于物質(zhì)成分分析,強(qiáng)度測(cè)量的再現(xiàn)性好,便于進(jìn)行無損分析,分析速度快,應(yīng)用范圍廣,分析范圍包括原子序數(shù)Z≥3的所有元素。除用于物質(zhì)成分分析外,還可用于原子的基本性質(zhì),如氧化數(shù)、離子電荷、電負(fù)性和化學(xué)鍵等的研究。
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